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Standard Test Finger Probe with 30±0.2 Jointed Point 80±0.2 Length and 180±0.2 Fingertip to Baffle for Accessibility Testing

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China Pego Electronics (Yi Chun) Company Limited zertifizierungen

Les Je Viens de Recevoir doigts d essais, Je-suis très satisfait, très c est bien

—— ESTI-Bildung

Liebe Alice, Die Maschinen funktionieren gut jetzt. Danke, damit Ihre Unterstützung und Geduld unsere Probleme löst und uns sehr nützliche Vorschläge in der Verhandlung gibt. Wirklich eine gute Zusammenarbeit.

—— TUV Rheinland Pvt. Ltd.

Lieber Penny, Wir schätzen wirklich zum Kaufen von Pego-Gruppe für einige Jahre, alle Produkte kommen mit gute Qualität amd einfacher Operation.

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Ich habe die Frühlingshämmer empfangen, sie bin groß!

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Standard Test Finger Probe with 30±0.2 Jointed Point 80±0.2 Length and 180±0.2 Fingertip to Baffle for Accessibility Testing

Großes Bild : Standard Test Finger Probe with 30±0.2 Jointed Point 80±0.2 Length and 180±0.2 Fingertip to Baffle for Accessibility Testing

Produktdetails:

Herkunftsort:	CHINA
Markenname:	Pego Electronics
Zertifizierung:	Third-Lab Calibration Certificate
Modellnummer:	PG-TPB

Zahlung und Versand AGB:

Min Bestellmenge:	1 Set
Preis:	Verhandelbar
Verpackung Informationen:	Schutzkoffer + Karton
Lieferzeit:	3 Arbeitstage
Zahlungsbedingungen:	T/T, Paypal
Versorgungsmaterial-Fähigkeit:	1000 Prozent/Monat

Kontakt

Ausführliche Produkt-Beschreibung

Standard entspricht:	Die in Absatz 1 Buchstabe b genannten Anforderungen gelten für die in Absatz 1 Buchstabe b genannten	Material:	Isoliermaterial (Handler) und Metall (Finger)
Vorlaufzeit:	3 Arbeitstage	Anwendung:	zur Prüfung der Zugänglichkeit zu gefährlichen Teilen
Typ:	Zugangssonde	Triebwerk:	0N-50N
Hervorheben:	30±0.2 Jointed Point Test Finger Probe , 80±0.2 Length Standard Test Finger , 180±0.2 Fingertip to Baffle Jointed Test Finger

Insulating Material Standard Test Finger for Accessibility Test Thruster 0N-50N

Standard Test Finger for Accessibility Test

Introduction

The Standard Test Finger, also known as jointed test finger or test probe B, simulates human fingers to verify accessibility to hazardous parts in electrical and electronic devices. This essential testing tool is widely referenced in standards including IEC60335-1, IEC62368-1, and IEC60598-1.

Designed in strict compliance with IEC61032 Figure 2, the probe features an insulating handle and metal finger. The built-in 0-50N thruster accommodates required test forces of 10N and 30N. An integrated wire connects to an electrical indicator to detect accessibility of hazardous live parts.

Specification

Model	PG-TPB
Jointed point size 1	30±0.2
Jointed point size 2	60±0.2
Length of finger	80±0.2
Fingertip to baffle size	180±0.2
Fingertip taper fillet	S4±0.05
Diameter of finger	Ф12 0 -0.05
Diameter of baffle	Ф75±0.2
Thickness of baffle	5±0.5
A-A section diameter	Ф50
A-A section width	Ф20±0.2
Thruster	10N optional
Standard	IEC61032

Größe und Tag:

Ansprechpartner: Ms. Penny Peng

Telefon: +86-18979554054

Faxen: 86--4008266163-29929

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Material: Nylon und Edelstahl

Versandkosten: durch Eil

Garantie: 12 Monate

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30±0.2 Jointed Point Test Finger Probe

80±0.2 Length Standard Test Finger

180±0.2 Fingertip to Baffle Jointed Test Finger

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